X射线单晶衍射仪

仪器名称：X射线单晶衍射仪

仪器型号：XtaLAB Synergy-I

仪器产家：Rigaku Corporation

主要应用：

主要用于无机物、有机物、配合物、杂多酸等各类单晶材料的单晶结构、晶面定向等方面的表征和研究。

性能指标：

1. X射线发生装置：10~50 kV（1 kV/步），0~1.0 mA（0.01 mA/步）。

2. X 射线快门：转动快门。

3. 靶材料：Cu。

4. X射线泄漏量：防护罩外部泄漏X射线量< 1.0 μSv/h。

5. 可变发散角度，高分辨率时0.2 °，高强度时0.6 °。Kappa四圆测角装置，步进马达定位，四个角度均可自由转动，满足常规晶体结构分析和专业晶体学研究需要。(kappa)axis：﹣179~﹢179 deg。2θ(theta) axis：﹣179~﹢179 deg。ω(omega) axis：﹣179~﹢179 deg。φ(phi)axis：﹣360~﹢360 deg。

6. 样品观测用CCD照相机：≥70倍。

7. 孪晶：孪晶数据分析模块，最大可支持7组分孪晶分析。

样品要求：

高质量单晶样品。晶体表面规则，无明显裂纹。样品中不得含有水分。样品尺寸50 μm左右。多孔类或易潮解的样品，请提前真空干燥处理。

制样要求：

1.用毛细玻璃丝粘晶体，晶体大小应适中，样品应该粘牢固，防止转动过程中掉落。

2.部分有机和MOF类单晶，母液是水时，制样时应用油状液体包裹

测试项目：

通过对单晶收集数据，解出晶体结构，得到键长、键角等一系列数据，但本测试不包含数据解析。

测试案例：

单晶测试直观图

解出结构展示

仪器说明：

XtaLAB Synergy-I型单晶衍射仪具有更快速的数据采集速度和能提供高质量数据等优势。改进的Kappa角度仪的设计提供了更大的访问交互空间以及更长和更短的晶体到探测器的距离。增加了一倍的电机速度可以提高数据采集速度，减少扫描之间的死时间，使数据采集时间明显减少。Photonjet X射线源基于微聚焦封管技术，包括一个新的X射线管，新光路和新的对准装置，可提供双倍的能量密度和与之前相比更长的管寿命。CrysAlisPro软件包是新型XtaLAB Synergy的神经中枢，通过高度并行的架构将所有新的速度和能量密度的改进捆绑在一起，产生了晶体材料3D结构快速系统。